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綜合熱分析儀的檢測(cè)原理和設(shè)備特點(diǎn)

更新時(shí)間:2020-08-11      點(diǎn)擊次數(shù):1847
  綜合熱分析儀主要是測(cè)量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備,可以進(jìn)行微小領(lǐng)域(微米等級(jí))、納米薄膜、Sic(單晶體、多晶體)、AIN等的測(cè)量。熱分析儀檢測(cè)設(shè)備利用激光對(duì)樣品進(jìn)行調(diào)制循環(huán)加熱、通過紅外線放射量的變化,將樣品內(nèi)部異常部分的檢測(cè)或不均勻性的熱特性可視化。內(nèi)載紅外宏觀光學(xué)系照相機(jī),可高倍率觀察。并且,使用樣品加熱器的熱傳播檢查和簡(jiǎn)易溫度測(cè)量都可以進(jìn)行。
  綜合熱分析儀的原理:
  消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率一致性、氣氛壓力與流量差異等因素影響,TG與DTA/DSC曲線對(duì)應(yīng)性更佳。根據(jù)某一熱效應(yīng)是否對(duì)應(yīng)質(zhì)量變化,有助于判別該熱效應(yīng)所對(duì)應(yīng)的物化過程(如區(qū)分熔融峰、結(jié)晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等)。在反應(yīng)溫度處知道樣品的當(dāng)前實(shí)際質(zhì)量,有利于反應(yīng)熱焓的準(zhǔn)確計(jì)算。
  產(chǎn)品不僅波長(zhǎng)連續(xù)自動(dòng)可調(diào),而且精度大幅提高,從傳統(tǒng)元素分析儀的波長(zhǎng)誤差一般20nm(±5nm)提高到現(xiàn)在的3nm,因而可以使產(chǎn)品在擴(kuò)大應(yīng)用范圍的同時(shí),提高分析檢測(cè)的準(zhǔn)確度。可檢測(cè)普碳鋼、低合金鋼、高合金鋼、生鑄鐵、球鐵、合金鑄鐵等多種材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多種元素。每個(gè)元素可儲(chǔ)存99條工作曲線,品牌電腦微機(jī)控制,全中文菜單式操作。可以滿足冶金、機(jī)械、化工等行業(yè)在爐前、成品、來料化驗(yàn)等方面對(duì)材料多元素分析的需要。
  綜合熱分析儀檢測(cè)設(shè)備特點(diǎn)
  1、熱分析儀熱物理性顯微鏡是測(cè)量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備;
  2、熱分析儀檢測(cè)設(shè)備可以通過點(diǎn)、線、面測(cè)量樣品的熱物性;
  3、該設(shè)備可以測(cè)量以往難以測(cè)量的微米等級(jí)的熱物性值的分布;
  4、非接觸方式且高分辨率的熱物性測(cè)量設(shè)備;
  5、檢測(cè)光spot直徑3μm、高分辨率來測(cè)量微小領(lǐng)域的熱物性(點(diǎn)、線、面  測(cè)量);
  6、因?yàn)榭筛淖兩疃确秶鷣頊y(cè)量,所以從薄膜、多層膜到散裝材料都可測(cè)量;
  7、 基板上的樣品也可測(cè)量;
  8、 熱分析儀激光非接觸式測(cè)量;
  9、可檢測(cè)薄膜下的裂紋、孔隙、脫落等問題。
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